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熱發(fā)射率儀(如TIR100-2型)的工作原理主要基于主動(dòng)式反射測(cè)量法,其核心是通過已知溫度的黑體輻射源與樣品表面的反射信號(hào)對(duì)比,間接計(jì)算出發(fā)射率值。具體步驟如下:一、工作原理1.黑體輻射源發(fā)射儀器內(nèi)部集成一個(gè)溫度恒定在100°C的半球形黑體...
擦拭測(cè)試計(jì)數(shù)器在核藥生產(chǎn)與核醫(yī)學(xué)中的重要性在放射性藥品生產(chǎn)與核醫(yī)學(xué)診療高度發(fā)展的今天,患者安全、醫(yī)護(hù)防護(hù)與法規(guī)合規(guī)被視為不可逾越的生命線。在這一精密鏈條中,擦拭測(cè)試計(jì)數(shù)器(或稱活度計(jì)數(shù)器)作為一種高靈敏度的監(jiān)測(cè)設(shè)備,扮演著“環(huán)境安全哨兵”與“質(zhì)量控制守門員”的雙重角色,其作用非常重要。一、在放射性藥品(核藥)生產(chǎn)領(lǐng)域:GMP合規(guī)與產(chǎn)品質(zhì)量的核心保障放射性藥品的生產(chǎn)必須在嚴(yán)格的藥品生產(chǎn)質(zhì)量管理規(guī)范下進(jìn)行。擦拭測(cè)試計(jì)數(shù)器是實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)的關(guān)鍵工具。1.確保產(chǎn)品“放化純度”的關(guān)鍵手段...
Capintec的CAPRAC-t是一款專門設(shè)計(jì)用于擦拭測(cè)試的臺(tái)式放射性活度計(jì)數(shù)器。它的核心功能和應(yīng)用領(lǐng)域非常明確:主要用途:1.測(cè)量擦拭樣本的放射性活度:這是其最核心的功能。用戶使用擦拭材料(如濾紙、棉簽)在懷疑有放射性污染的表面進(jìn)行擦拭取樣,然后將該擦拭樣本放入CAPRAC-t中進(jìn)行測(cè)量。儀器會(huì)精確測(cè)定擦拭樣本上收集到的放射性核素的活度(通常以Bq或μCi為單位)。2.定量評(píng)估表面污染水平:通過測(cè)量擦拭樣本的活度,結(jié)合擦拭面積,可以計(jì)算出該表面的可去除表面污染水平。這是核...
薄層掃描儀是一種基于薄層色譜(TLC)技術(shù)的高精度分析儀器,廣泛應(yīng)用于核醫(yī)學(xué)、藥物質(zhì)量控制、環(huán)境監(jiān)測(cè)及科研領(lǐng)域。其核心功能是通過分離與檢測(cè)樣品中的不同成分,實(shí)現(xiàn)定性和定量分析,并生成二維或三維圖像以評(píng)估物質(zhì)分布。薄層掃描儀由光學(xué)系統(tǒng)、掃描臺(tái)、探測(cè)器及數(shù)據(jù)處理模塊組成。工作時(shí),樣品點(diǎn)涂于薄層板(如硅膠板)后,經(jīng)流動(dòng)相展開形成分離斑紋。儀器通過長(zhǎng)波長(zhǎng)光束(如254nm、365nm)或熒光激發(fā)檢測(cè)斑點(diǎn)光強(qiáng)變化,結(jié)合CCD傳感器或閃爍體探測(cè)器采集信號(hào),轉(zhuǎn)化為數(shù)字圖像。部分型號(hào)采用雙波...
TIR100-2屬于熱發(fā)射率測(cè)量方法種的一種即輻射計(jì)法/反射法,但其具體實(shí)現(xiàn)方式具有鮮明的特色和優(yōu)勢(shì)。測(cè)量方法簡(jiǎn)述:TIR100-2內(nèi)部集成了一個(gè)溫度恒定在100°C的半球形黑體作為輻射源。這個(gè)黑體腔會(huì)向樣品表面發(fā)射熱輻射。儀器底部的熱電堆傳感器探測(cè)的,并非樣品自身發(fā)出的輻射,而是樣品表面反射回來的、來自黑體腔的輻射。反射回來的輻射能量越強(qiáng),說明樣品的反射率越高,其發(fā)射率就越低;反之亦然。儀器通過內(nèi)部校準(zhǔn)曲線,直接將反射信號(hào)轉(zhuǎn)換為發(fā)射率值。與其他方法的明顯區(qū)別及優(yōu)勢(shì):對(duì)比維度...
物體表面熱發(fā)射率的測(cè)量方法主要分為兩大類:直接法和間接法。一、直接法:量熱法:·原理:直接基于發(fā)射率的定義進(jìn)行測(cè)量。將樣品加熱到一個(gè)特定溫度,通過測(cè)量其維持該溫度所需的功率(熱損失),直接計(jì)算出發(fā)射率。這是最基礎(chǔ)、最準(zhǔn)確的方法之一,常被視為基準(zhǔn)方法?!ぬ攸c(diǎn):測(cè)量準(zhǔn)確度高,但設(shè)備復(fù)雜,測(cè)量周期非常長(zhǎng)(數(shù)小時(shí)),對(duì)實(shí)驗(yàn)環(huán)境要求很告,通常僅用于計(jì)量院所的基礎(chǔ)研究和標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)定標(biāo)。二、間接法:1、輻射計(jì)法/反射法:·原理:根據(jù)基爾霍夫熱輻射定律,在不透明(或已知透射率)的材料中,在熱紅...
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