放射性薄層掃描儀是一種用于檢測和分析放射性物質(zhì)在薄層材料（如濾紙、硅膠板、聚合物薄膜等）中分布的高精度儀器。通過探測放射性核素衰變時釋放的射線（α、β、γ射線），生成二維或三維圖像，廣泛應用于科研、工業(yè)檢測、環(huán)境監(jiān)測、核醫(yī)學等領域。

　　放射性色譜法是一種分析技術(shù)，可對放射性混合物中的不同化合物進行定性和定量分析。而且，放射性薄層色譜法可對核醫(yī)學實驗流程中使用的放射性藥物的質(zhì)量控制（QC）進行快速的評估。該技術(shù)也被標記實驗室和放射性藥物生產(chǎn)商廣泛使用。

　　放射性薄層掃描儀的操作步驟：

　　1、設置參數(shù)

　　掃描模式選擇：

　　根據(jù)放射性同位素類型選擇探測器（如α、β或γ射線探測）。

　　設置掃描區(qū)域（覆蓋TLC板全長或特定區(qū)間）。

　　分辨率與靈敏度：

　　調(diào)整掃描分辨率（如20~200μm/像素），高分辨率適合微量樣品分析。

　　設置曝光時間或計數(shù)閾值，確保信號強度適中（避免過曝或不足）。

　　校正與校準：

　　使用標準放射源（如¹?C、³²P）進行能量校準，消除背景噪聲。

　　輸入樣品信息（如濃度、體積、同位素種類）至軟件系統(tǒng)。

　　2、放置TLC板

　　將干燥后的TLC板輕輕放入掃描儀樣品槽，避免摩擦導致樣品脫落。

　　關閉防護蓋或屏蔽裝置，防止輻射泄漏。

　　3、啟動掃描

　　通過軟件控制掃描過程，實時監(jiān)控放射性分布圖像。

　　觀察動態(tài)成像，必要時暫停調(diào)整參數(shù)（如增益、對比度）。

　　4、數(shù)據(jù)采集與分析

　　圖像處理：

　　使用軟件標注峰位（對應放射性斑點），計算Rf值、半高寬等參數(shù)。

　　定量分析：通過峰面積或計數(shù)率計算樣品放射性強度（需結(jié)合標準曲線）。

　　數(shù)據(jù)保存：

　　導出圖像（如PNG、TIFF）和數(shù)據(jù)報告（如CSV、PDF），記錄測試條件（日期、儀器型號、參數(shù)）。